高 成 王长鑫，2 黄姣英

（1.北京航空航天大学可靠性与系统工程学院 北京 100191）（2.航天科工防御技术研究试验中心 北京 100854）

1 引言

电连接器广泛应用于航空航天、电子通信等行业，可以在电气终端之间进行电信号的传递及控制。电连接器分布在各个系统和部位，其故障可能导致断电或信号传输失败，甚至影响整个系统的正常运行，因此电连接器的可靠性分析工作不可忽视［1］。

蒋杰等［2～3］研究得接触失效是电连接器最主要的失效模式。靳方建等［4～5］分析了电连接器的接触电阻和接触可靠性的影响因素，如接触件结构、接触压力、温度、材料等。贾博贤等［6］关注电连接器的分离可靠性，建立了电连接器分离阻力计算模型。

可靠性分析技术中应用较多的是3F方法，即：故障报告、分析及纠正措施系统（FRACAS），故障模式影响及危害性分析（FMECA），和故障树分析（FTA）。3F方法已在系统和单机层面广泛应用［7～8］，而在元器件层面应用较少。近年来，随着元器件复杂程度的提升和对可靠性要求的增加，国内已有部分研制企业尝试应用3F技术开展质量问题分析，以控制和改善元器件可靠性［9］。

失效物理（PoF）方法是物理学与可靠性相结合的新学科，是可靠性工程的一个重要的新兴发展阶段。它以理化分析为基础关注失效机理，从原子、分子学观点来阐明与失效有关的物理、化学过程，从而为产品的研制与生产乃至贮存使用提供科学的信息与依据。目前，国内外已将失效物理方法广泛应用于可靠性分析，并建立了许多失效机理模型［10～12］。……