刘小为

（中国电子科技集团第四十三研究所，合肥 230088）

引言

随着我国航天事业的高速发展，对高性能、高可靠、小型化同时具备抗空间辐照DC/DC变换器的需求十分迫切。单粒子效应是空间辐射环境中的高能质子、重离子、α粒子和中子等与半导体器件或集成电路相互作用后，器件或电路会出现单粒子翻转、单粒子闩锁、单粒子栅穿、单粒子烧毁等异常现象[1]。如果DC/DC变换器受辐照影响致使输出电压发生改变，将会直接影响电路其他部分的正常工作，因此，迫切需要解决DC/DC变换器的单粒子效应问题。

通常以地面模拟环境试验或卫星搭载方式来研究DC/DC变换器的抗辐照性能，DC/DC变换器单粒子效应地面模拟试验是研究抗辐照DC/DC变换器及核心器件加固设计的基础。单粒子效应地面模拟试验数据的准确性、可靠性和可信度直接关系着航天电子器件在轨长期运行的可靠性，而这些数据均需要测试系统完成。因此，为了更好地开展好DC/DC变换器单粒子试验，必须要研究其单粒子测试系统，以满足航天工程对抗辐照DC/DC变换器的技术研究与应用。

1 国内外现状

自从1978年Pickel和Blandford确认了单粒子的存在后，1979年Kolasinski W A等人发现单个高能粒子能引起COMS器件发生闭锁，1986年Waskiewicz A E等人发现单个高能粒子还能引起MOS器件发生单粒子烧毁，1987年Fischer T A等人又发现单粒子栅穿等[2-4]，单粒子效应一度成为研究热点。与此同时，国外开展了大量DC/DC变换器的抗单粒子辐射技术研究，例如P.C.Adell等人关于DC/DC变换器单粒子效应模拟试验的测试方法、测试结果分析及模型仿真方面的研究，L.Sterpone等人注入模拟法的研究等[5,6]。……