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ZnO导电薄膜替代ITO可行性研究

2021-09-10艾国齐赵兵葛玉龙刘芳艾诚轩

科技研究·理论版 2021年3期

艾国齐 赵兵 葛玉龙 刘芳 艾诚轩

摘要:本文介绍了宽禁带半导体导电薄膜材料ZnO的相关性质,对ZnO与ITO在LED芯片制作中的应用中光电参数进行对比分析,探讨了ZnO作为替代ITO的可行性,结果表明,ZnO材料作为导电薄膜具有穿透率高,与金属粘附力好等優势,但也存在方块电阻偏高等需解决的问题。

关键词:ZnO;ITO;LED芯片;光电参数

1.引言

ITO作为透明导电薄膜材料被广泛应用于平面显示以及LED行业,由于具有优秀的导电和透光性能,一直无法被取代。近年来,ZnO被认为是最有可能取代ITO的材料之一, ZnO是宽禁带半导体薄膜材料,具有极好的光学和电学特性,广泛应用于导电薄膜器件,传感器,表面声波器件以及各种光电器件。ZnO与GaN,SiC共同被称为第三代半导体材料,同时具有较高的激子束缚能,比室温热离化能大,适合制作短波发光器件。本征ZnO由于存在氧空位以及锌间隙,很容易形成n型导电特性,但是n型特性远不如P型导电特性,P型ZnO可以通过受主掺杂的方式获得,ZnO薄膜可以在500℃及以下温度生长,较低温度生长能有效避免衬底材料与ZnO之间的相互扩散,另一方面还可以大大降低生产成本。常用的制备方法有液相外延法,真空蒸镀法,溶胶凝胶法,磁控溅射,MOCVD等方法,其中溶胶凝胶法和真空蒸镀法生产工艺简单,MOCVD法生长膜层质量较好。

2.实验

2.1样品制备

挑取20片一致性较好的2寸PSS蓝宝石衬底,用MOCVD生长GaN缓冲层,N型GaN层,量子阱层,P型GaN层,对以上20片外延片进行PL测试,选择光电特性一致性较好……

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