彭安虎， 韩周安， 李志强

(1. 电子科技大学，四川 成都 610000; 2. 成都爱科特科技发展有限公司，四川 成都 610000)

0 引 言

T/R组件是构成相控阵雷达的基础，是相控阵雷达的核心部件，一部雷达中通常有几百个甚至更多T/R组件[1]。T/R组件的各项指标直接影响雷达的整机指标，在T/R组件研制前期以及大规模批量生产阶段，大量全面的电性能指标测试是必需的[2-3]。传统测试方法自动化程度低，多为手工操作测试，测试过程相当繁琐，需进行大量的重复测试，并且测试数量繁多、测试数据统计量大，测试覆盖大量的频点、通道，涉及的测试指标包含移相、衰减、噪声系数等复杂指标[4]。为满足T/R组件的测试需求，T/R组件自动测试系统已广泛应用于T/R组件的研发生产、维修调试过程。

近年来，随着雷达技术的发展，T/R组件呈现出多通道、高频段、高性能的特点，为满足相应的测试需求，多通道、多组件、高精度T/R测试系统的研制显得愈发重要。T/R测试系统为实现自动测试的目的，不可避免地会引入额外的线缆、矩阵开关等嵌入网络，如何保证在嵌入网络的影响下，准确获取待测件的真实指标是保证测试系统精度的关键。目前的去嵌入技术研究主要集中在非同轴环境和非插入式器件的测量，对于非同轴环境的测量，例如PCB上表贴器件、片上晶圆测试等，比较常用的方法为 AFR（automatic fixture removal）、LRL（line -reflect-line）等去嵌入技术，而对于非插入式器件的测量主要有夹具建模、基于端口延伸的SOLT（shortopen-load-thru）校准等手段实现去嵌入[5]。目前的去嵌入方法在进行去嵌入时，关注的是单台仪器的通道去嵌入问题，没有考虑大规模通道去嵌入的情况。……