基于环境应力数据的使用可靠性预测方法研究

2021-09-10张国龙石景岚方远吕鑫

电子产品可靠性与环境试验 2021年4期

张国龙，石景岚，方远，吕鑫

（光电对抗测试评估技术重点实验室，河南洛阳 471003）

0 引言

电子产品在外场使用过程中的失效数据及性能退化数据是预测电子产品寿命的最可信的数据来源，而外场条件下缺乏足够的数据，通过外场数据推断使用寿命需要耗费大量的时间来获取足够的信息量，目前，主要通过开展ALT 和ADT 在较短的时间内获得足够的寿命信息，而后通过加速模型来外推电子产品在正常环境应力下的寿命分布[1-2]。无论是加速寿命试验还是加速退化试验，在实验室进行的模拟环境均同电子产品工作的外场实际环境存在一定的差异，主要体现在：1）试验无法施加电子产品在实际中所有的应力；2）在不同的外场工作环境条件下，所施加的应力会有所不同。因此，实验室获得的信息不能客观地体现电子产品的寿命的实际情况，如何弥补外场寿命信息稀缺的不足，结合实验室试验数据充足的特点，综合利用试验数据和环境应力数据来预测电子产品的外场寿命将更具有实际意义。

本文考虑电子产品工作外场环境的不确定性，以及环境应力数据对电子产品可靠性的影响，假设电子产品实际工作的环境应力数据可知时，通过构建环境条件概率分布函数，结合加速试验数据提出电子产品外场使用可靠性预测方法，从而获得更加客观的电子产品使用寿命，为电子产品的预防性维修提供理论指导。