林伟浩，沈 奕

（汕头超声显示器技术有限公司，广东汕头 515065）

0 引言

随着车载智能座舱电子产业的迅速发展，电容式触摸屏作为关键的人机交互接口，逐渐在汽车内饰电子设计中得到普遍应用，而汽车电子产品面临的工作环境通常非常严苛，环境噪声较大，且存在各类干扰源，特别是在整车电子系统中，主板基本包含多个高压器件和低压逻辑电路等模块，因此运行环境具有大电压、大电流及强磁场等特点。与此同时，为匹配车载触控功能的迭代升级扩展，伴随着半导体集成电路技术及工艺的飞速发展，车载触控芯片的集成度越来越高，芯片内部工艺尺寸已达到100 nm级别。因触控芯片内部包含着非常密集的逻辑电路，外部过电应力（Electrical Over Stress，EOS）对其造成的影响也越来越大，此类深亚微米集成电路的可靠性问题也日趋严峻［1］。因此，为进一步提升触摸屏产品在汽车应用领域的可靠性和稳定性，以及达成汽车车厂对零部件上线装车的功能零缺陷要求，研究EOS的源头、失效机理、防护措施及检测方式等方面将变得至关重要。

本文介绍了EOS的产生源头及防护改善设计方法，通过结合实际EOS失效案例分析，提出了规范的失效分析流程，并着重针对因EOS造成的通信接口线路微短路缺陷较难及时有效检出的难题，开展检测系统的分析与研究，搭建了改进后的检测系统，并最终通过了有效性验证。

1 车载触摸屏EOS产生机理

1.1 电容式触摸屏的工作机理

车载电……