王蕾越 战可涛 尹 亮

(北京化工大学 数理学院， 北京 100029)

引 言

随着国内工业的快速发展，土壤重金属污染的问题越来越严重，污染治理迫在眉睫。而治理污染需要采样检测以确定土壤的污染程度，根据污染元素的种类及含量制定相应的治理方案，治理后需要再次检测以评估治理效果。因此，快速、准确、经济的检测方法在治理前检测和治理后评估的环节中必不可少。

目前，土壤重金属检测主要有两类方法。一类方法是包括原子荧光光度计法、原子吸收分光光度计法等在内的实验室化学方法，此类方法测量准确，精度高，但是测量前需要湿法消解，过程复杂繁琐，不易操作，且样品一次消耗，无法重复测量。另一类方法是X射线荧光光谱法(X-ray fluorescence spectrometry, XRF)，XRF又分为波长色散X射线荧光光谱法(wavelength dispersive X-ray fluorescence spectrometry, WDXRF)和能量色散X射线荧光光谱法(energy dispersive X-ray fluoresence spectrometry, EDXRF)。WDXRF采用分光晶体和测角仪来选择待测荧光的波长，使用探测器记录强度，从而得到光谱，再由光谱分析结果，计算元素含量。WDXRF仪器体积庞大，价格高昂，使用条件较为严苛。EDXRF则是使用硅漂移探测器(silicon drift detector, SDD)等半导体探测器记录不同能量的光子，输出为一系列脉冲，脉冲高度代表波长，脉冲数量代表强度，从而得到光谱，再由光谱分析结果，计算元素含量。EDXRF体积小、结构精简、使用简单、测量速度快、测量元素范围广，非常适合用于土壤重金属含量检测。

近年来，业内对EDXRF有较为深入的研究。胡明情[1]认为在样品厚度大于10 mm、颗粒度一致且干燥的情况下，EDXRF的测量结果较为可信。……