黄 帆，汪相如*，贺晓娴，张梦雪，王影丽，郭弘扬，胡 婕，马浩统

温度诱导液晶相控光束质量恶化分析

黄 帆1，汪相如1*，贺晓娴1，张梦雪1，王影丽1，郭弘扬2，胡 婕2，马浩统2

1电子科技大学光电科学与工程学院，四川 成都 611731；2中国科学院光电技术研究所，四川 成都 610209

液晶光学相控阵是下一代光束控制技术的核心器件，提高其耐受激光阈值是当前研究的热点之一。针对较高功率激光入射场景下评测液晶光学相控阵相位调制性能恶化程度的问题，本文基于传统四分之一波片法，实现快速、直接测量液晶对入射激光的相位调制量。验证试验发现，当中心温度为33 ℃时，对应的最大畸变相位为3.6 rad。同时，本文基于该实测相位调制结果，研究出射光的光束质量恶化过程。分析结果表明：当液晶移相器的中心温度变化小于10 ℃时，光束质量恶化小于20%。

液晶光学相控阵；高功率激光；相位恶化；光束质量

1 引 言

作为光学相控阵技术之一，液晶光学相控阵技术已经被证实是一种能够实现非机械式光束偏转的方法，它采用驱动电压低、相位调制深度大的列相液晶作为相位调制的电光材料，对光束的偏转具有非机械、扫描精度高、电控、响应快、阈值电压低、体积小等优点，将其应用于空间光调制将会有较大的优势[1-2]。随着液晶相控阵技术的成熟，对相关性能的研究(比如：衍射效率、扫描精度、波束控制等)越来越广泛和深入[3-5]。但是在高功率激光注入液晶相控阵的应用场景下，对相控阵的性能变化等方面研究比较少。……