杨旭萍,闫丽萍,赵 翔

(四川大学 电子信息学院，四川 成都 610065)

0 引言

随着无线通信技术的迅猛发展，便携式电子用品数量急速增长，对数据传输速率和容量的需求迫使无线电子产品的工作频段不断向毫米波段发展，如未来5G/B5G毫米波新波段：24.25～27.5 GHz，37～43.5 GHz，66～71 GHz频段等[1]。电子设备的辐射发射(Radiation Emission，RE)是其电磁兼容性测试中的一个重要指标，测量频率范围根据设备使用的最高基频确定[2]。目前关于电磁辐射发射的测试标准已有多种[3-8]，但这些标准的适用频率上限多为18 GHz，适用于毫米波段的电磁辐射发射标准非常少。然而随着基频高的5G NR电子产品进入市场，对更高频率(如毫米波段)电子设备的电磁辐射发射进行测量势在必行，这恰是一些标准组织目前正在关注的问题[9]。

已有RE测量标准中给出的方法基本一致，本文以CISPR 16-2-3为例对电子设备辐射发射测量方法进行简要描述。当被测设备(EUT)尺寸较大时，在规定测量距离处，进行1～4 m的垂直扫描以测得EUT辐射场的最大电场场强。现有标准中目前常用的辐射发射测量距离有1，3，10 m三种。其中，3 m法暗室因其在高频电磁干扰测量中具有较高的精度和较低的成本而得到了广泛应用。当频率不是很高时，测量距离近似满足远场条件2D2/λ，D为天线的最大尺寸，λ为自由空间中的波长，因此扫描平面近似为等相位面。但是，随着EUT电尺寸的增加，导致扫描平面不再与等相位面重合。因此，接收天线沿垂直地面方向扫描测得的场不是同一波阵面上的实际场。……