基于数字多道NaI(Tl)探测器的死时间研究
2021-07-13闫洋洋蔺常勇梁英超代传波陈祥磊
辐射防护 2021年3期
闫洋洋,江 灏,蔺常勇,2,梁英超,代传波,廖 武,陈祥磊
(1.武汉第二船舶设计研究所,武汉 430205;2.武汉海王核能装备工程有限公司,武汉 430205)
任意探测器对射线(包括γ射线)的测量均存在死时间,当进入探测器的射线强度太大时,在前一个射线还未处理完而下一个射线已进入的情况时,第二个射线有可能不能被处理,产生死时间效应。在死时间效应内,系统对进入的射线无法测量,造成计数丢失[1]。在实际测量中,有时需要对计数率进行精确的测量,因此需要对死时间效应进行修正。
随着放射性测量技术的发展,数字多道的使用日益广泛,但是数字多道的工作原理与传统模拟多道不同,不同的数字多道之间的工作方式也不尽相同,产生死时间的方式也不同,对特定型号的数字多道死时间所服从的规律还需进一步研究。对于DMCA-iCore数字化多道模块,其工作时对前置放大电路输出信号进行全波形数字化采样,理论上对所有信号均完成了采集,由于所有的信号均进行了采样和保存,即使相邻两个射线间隔时间较近,射线均可以被记录。通过对信号进一步处理,丢弃掉波形发生重叠、无法准确测量的信号,从而产生测量的死时间。死时间的产生原理与模拟多道完全不同,下文中对该数字多道死时间服从的规律进行研究。数字多道同时会给出测量过程中的实时间与死时间,文中对数字多道给出的死时间也进行了分析研究。
本文以DMCA-iCore数字化多道模块与NaI(Tl)探头为基础,对该数字多道死时间效应的产生原因进行了理论分析,得出数字多道死时间也服从扩展型分布的结论。……
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