电离辐射对大鼠下颌下腺旁细胞途径分泌的影响
2021-06-10吴言辉许辉姚清婷刘少华艾皮孜古丽亚库普路利丹石亮
吴言辉 许辉 姚清婷 刘少华 艾皮孜古丽·亚库普 路利丹 石亮
1.新疆医科大学,乌鲁木齐830054;2.新疆维吾尔自治区人民医院口腔颌面外科,乌鲁木齐830001;3.山东大学齐鲁医院口腔颌面外科,济南250012;4.山东大学口腔医学研究所,济南250012
放射损伤造成的口腔干燥症是头颈部鳞状细胞癌放疗后最常见的并发症之一[1]。电离辐射损伤涎腺导致分泌功能降低可伴发猖獗龋、吞咽及语言功能障碍等,严重影响生活质量。因此,对电离辐射涎腺损伤机制更好地了解可为防治唾液腺分泌功能异常提供新的思路。下颌下腺唾液分泌量占口腔静息分泌总量的60%~65%,对维持口腔湿润起重要作用。在生理状态下毒蕈碱型乙酰胆碱受体(muscarinic acetylcholine receptor,M 受体)亚型M3 调控水通道蛋白5(aquaporin 5,AQP5)介导的涎腺跨细胞分泌与claudin-4 介导的涎腺旁细胞分泌途径是下颌下腺水和电解质转运的两种重要方式[2]。通常紧密连接(tightjunction,TJ)为维持唾液腺上皮的极性、建立正常的跨上皮细胞离子梯度提供了重要保障,是水、离子和小分子物质经过旁细胞途径转运的结构基础和限制因素。电离辐射损伤后AQP5介导的涎腺跨细胞分泌途径损伤可能参与唾液腺分泌功能低下[3-4]。但是目前关于放射损伤对TJ 超微结构介导的旁细胞分泌途径影响如何,以及在旁细胞途径中对离子调控起主导作用的claudin-4 如何改变尚不清楚。本实验旨在建立大鼠下颌下腺放射损伤模型,探讨电离辐射对下颌下腺TJ 超微结构及claudin-4 的影响,为进一步阐述电离辐射后唾液腺的损伤机制,防治唾液腺分泌功能异常提供新的思路。……
