俞 兵，王宝龙，李宏光，解 琪，马世帮

（1.西安应用光学研究所，陕西 西安 710065；2.国防知识产权局，北京 100088）

引言

太赫兹波段位于红外和微波之间，太赫兹技术是国际上重点研究的交叉性前沿技术[1-5]。太赫兹源计量技术是制约太赫兹技术应用发展的瓶颈，发散角是太赫兹源光束特性的重要衡量指标[6-9]。在依据太赫兹源光束特性设计太赫兹光学系统时，需要准确的太赫兹源发散角参数。如果太赫兹源发散角实际测量值和设计值不匹配，则会导致太赫兹系统接收到的辐射能量出现偏差，进而降低太赫兹信号的信噪比和灵敏度，因此急需对各种太赫兹源的发散角参数进行准确测量[10-12]。

1 太赫兹源发散角测量方法

1.1 发散角测量原理

太赫兹源发散角是用来表征太赫兹光束质量的重要参数，通常采用太赫兹辐射相对于光束中心向外的发散程度来衡量。太赫兹源发散角测量采用太赫兹探测器转动测量法：太赫兹源保持不动，太赫兹探测器位于以待测太赫兹源为中心的圆弧上，将太赫兹探测器绕太赫兹源移动，测量对应的太赫兹相对辐射强度值。

太赫兹源发散角测量原理为：测量时，开启辐射源一段时间，当辐射源辐射功率稳定时，沿方位方向精密弧形导轨转动探测器，探测器有响应输出，以探测器测得的最大值作为起点。先将探测器移动沿某一方向移动，当探测器输出值达到最大值10%时，这时记录精密导轨的角度值 α1；将探测器移回到最大值处后，再沿相反方向移动探测器，当探测器输出值又达到最大值10%时，记录此时精密导轨的角度值 α2，因此发散角 2ω可由（1）式表示。……