半绝缘碳化硅单晶衬底的研究进展
2021-05-21陈秀芳谢雪健徐现刚胡小波杨祥龙于国建王垚浩
人工晶体学报 2021年4期
关键词:生长
彭 燕,陈秀芳,谢雪健,徐现刚,胡小波,杨祥龙,于国建,王垚浩
(1.山东大学,晶体材料国家重点实验室,新一代半导体材料研究院,济南 250100;2.广州南砂晶圆半导体技术有限公司,广州 511458)
0 引 言
众所周知,半导体产业发展至今经历了三个阶段:第一代半导体材料以硅为代表,主要应用在以集成电路(IC)为核心的信息电子领域;第二代半导体材料以砷化镓等化合物半导体为代表,主要应用在光电子领域、通信领域;第三代半导体材料的兴起,则是以氮化镓(GaN)薄膜材料的P型掺杂的突破为起点,以高亮度蓝光发光二极管(LED)和蓝光激光器(LD)的研制成功为标志。随着生长技术的发展,第三代半导体材料和应用也越来越广泛。SiC材料就是典型的代表之一。
SiC具有一系列优良的物理化学特性,除了禁带宽度,还具有高击穿电场、高饱和电子速度、高热导率、高电子密度和高迁移率等特点,随着单晶材料的技术突破,这些性质使得SiC成为研究和产业的热点,有力推动了SiC单晶材料的进展。
SiC单晶作为晶体材料国家重点实验室最近二十年的重要研究内容之一,在蒋民华院士的主持下,从零起步,高起点布局,采取跨越式发展思路,攻克了一系列关键技术难关,培养了大批人才,为我国SiC单晶产业及其在核心领域的应用做出了卓越贡献。本文以SiC单晶衬底为主要研究对象,首先简要介绍其基本性质、研发历史和制备方法,并结合晶体材料国家重点实验室的半绝缘SiC衬底相关研究工作概述研究、产业现状和面临的挑战,最后对国产SiC单晶衬底的发展进行了展望。……
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