蔡宁静，曾祥忠，王 波

（1.西安邮电大学 电子工程学院，陕西 西安 710065；2.西安中川光电科技有限公司，陕西 西安 710065；3.西安北方光电科技防务有限公司，陕西 西安 710065）

引言

图像传感器是相机中光电转化的核心器件[1]，一个图像传感器中包含几十万至几百万个光电转换单元——像素。在传感器制造过程中，不可避免地受材料、工艺的影响，会有一定数量的光电转换单元存在缺陷:对光不敏感，甚至失去光电转换的功能，这就是盲元[2]，又可称为“坏点”，表现在图像上是与周围像素点完全不连续的、突兀的点。EBCMOS 作为新的光电探测器件，结合了光电阴极的高灵敏度、电子轰击半导体的高增益[3]和CMOS 半导体器件的高帧速率、低功耗、数字化显示等优点[4]，同时又具备制备结构简单、体积小、相对噪声低等特点[5]，在天文观察、高能物理、微光夜视以及遥感测绘等领域具有广阔的前景。但是盲元的存在，严重影响了EBCMOS相机图像的质量和视觉感受，进而影响后续的图像分析和处理工作。有效、准确的盲元检测算法不仅对消除盲元为后续处理带来的影响具有实际的意义和价值，也是评价EBCMOS 探测器的重要指标[6]。

目前常用的盲元检测算法都是针对红外探测器的，主要分为基于场景检测法和定标法，均涉及阈值的选取，不恰当的阈值容易造成盲元的漏判和过判。基于两种基本算法，研究者提出了很多改进的盲元检测算法，最新的有基于滑动窗口的盲元检测算法[7]，基于一种支持向量机的检测算法[8]，分步搜索策略的自适应盲元检测算法[9]，基于时域平均野值提取的盲元检测算法[10]，基于超像素分割的红外盲元检测算法[11]等。……