综述与展望

可靠性发展历史与经验启示 孙龙，胡湘洪，高春雨（1）

电子设备可靠性试验发展综述 汪凯蔚，张玄（5）

电子元器件失效分析的过去、现在和未来 罗道军，倪毅强，何亮，郭小童，杨施政（8）

超大规模集成电路测试现状及关键技术 罗宏伟，刘竞升，余永涛，罗军（16）

微系统及其可靠性技术的发展历程、趋势及建议 黄云，周斌，杨晓锋，陈思，付志伟，施宜军，王宏跃（21）

电子信息材料测试评价技术的发展与展望 贺光辉，李银乐，赵昊，赵振博（25）

锂离子电池可靠性技术发展现状研究 石翠，张玄，刘勇，郁丹丹（28）

国产军用电子元器件质量与可靠性及标准体系 魏建中，蔡志刚，周圣泽，曾铭衡，李沙金（31）

军用电子元器件标准化发展历史、现状和建议 任艳，周圣泽，李宜真，张树琨（35）

虚拟试验技术发展历史、现状和趋势 路国光，杨晓锋，陈思，时林林，付志伟，苏伟（39）

质量大数据的发展历史和应用现状 李泉洲，聂国健，史典阳，胡宁，刘振国，廖鑫婷，徐海，尚辉（43）

质量可靠性工程软件现状、发展趋势与对策分析 葛智君，丁世来（47）

通用质量特性软件发展史 张剑伟，方子豪，张玲杰（52）

系统安全理论发展综述 张玄，郭勍，汪凯蔚，石翠（56）

实验室信息管理系统发展综述 王文双，杨雅君（60）

电子五所环境试验设备控制器发展历程综述 郑建福，陈坚，雷晓明（64）

广东省电子显微镜的发展回顾和思考 刘宇锋，倪毅强，王有亮，杨施政，施明哲（68）

装备IETM标准化和应用的现状及问题探讨 杨培亮，朱亮标（72）

装备综合保障信息化综……