郝建红 潘慧东 范杰清

（华北电力大学，北京 102206）

引 言

随着电子技术的高速发展和大规模集成电路技术的广泛应用，高频瞬态电磁脉冲信号干扰普遍存在于各种实际工程中[1-3]. 高频瞬态电磁脉冲因其宽带、陡上升沿等特点，很容易通过孔缝、线缆等耦合通道对腔体内部电路及元器件造成浪涌冲击使其击穿或烧毁. 故开展电磁脉冲效应规律研究对增强电子系统的抗干扰能力具有重要意义.

一方面电磁环境日趋复杂，另一方面电磁屏蔽腔体在满足电气设计、散热设计、美观实用等要求下，其形状和结构也愈加复杂，影响复杂腔体电磁耦合效应的随机偶然因素增加，电磁脉冲的腔体耦合与外壳的几何形状以及干扰信号频率、极化方向、入射方向等诸多因素紧密相关[4-6]. 由于这种敏感的依赖关系，系统响应的统计描述近年来受到大家的普遍关注. 美国马里兰大学的Xing Zheng、Sameer Hemmady等人基于随机矩阵理论和随机平面波假说，提出了随机耦合模型（random coupling model,RCM）[7-11]. 该模型可对腔体内的电磁效应物理量进行统计性分析，结构类似设备的研究结果可以互为参考. 国内相关研究的学者较少，早期主要有王建国、陆希成、闫二艳等人对RCM理论进行了拓展研究与实验验证[12-16]. 近年来，李鑫将RCM理论与BLT方程相结合，提出了随机拓扑方法，并通过实验验证了该方法在系统级电磁耦合效应研究中的适用性[17]；李福林等人建立了二端口波混沌腔体短迹线RCM，并统计分析了目标点处感应电压的均方根误差随短迹线最大长度的变化关系[18]；……