张国强 蔡刚

（1.西安明德理工学院 陕西省西安市 710065 2.西安西谷微电子有限责任公司 陕西省西安市 710124）

1 引言

随着电子技术的飞速发展，芯片的可靠性越来越受到重视，要保证设备的稳定运行，各个研发环节都要考虑芯片的可靠性测试，尤其是民用企业要向军用企业转型，或者分包军品项目，在选用芯片时，不仅仅要选用工业级或者军品级产品，还要对芯片进行二次筛选，做可靠性测试。

PXA255A0E400 是Intel 公司旗下的XScale 架构处理器，是一种技术先进的高性能嵌入式处理器，内部采用XScale 核心，采用PBGA 封装形式，其性能比ARM9 内核更加优越，频率高达400MHz。此CPU 支持多种外围设备，其中片内控制模块包括：存储器控制器、LCD 控制器、DMA 控制器、AC97 数字音频电路、12S、12C、红外线通信接口IrDA、同步串行控制SSP、ClientUSB控制器、UARTs，包括全功能UART、蓝牙UART、标准UART、硬件UART，实时时钟电路、多媒体卡控制器MMC、中断控制、通用I/O 口等。丰富的控制模块为各种应用开发提供了强大的灵活性。

本文主要是围绕PXA255A0E400 设计一款最小测试系统板，研究其测试方法，对于同架构处理器测试有着很大的借鉴意义。

2 总体方案

本系统主要是以Intel XScale PXA255A0E400 处理器为核心，外围主要集成了以太网控制器、SDRAM、Flash、复位电路、晶振电路、JTAG 仿真电路、BOOT 启动模式选择电路等组成，图1 是测试系统设计框图。

图1：测试系统设计框图

3 硬件电路设计

3.1 以太网控制电路

PXA255A0E400 并没有直接提供以太网控制器接口，目前很多嵌入式微处理器并没有集成以太网控制器接口，如果所搭建的系统需要以太网接口，则需要外接以太网控制芯片。……