赵荣 吕正艳

摘  要：本文以超声波相控阵为研究视角，研究其技术理念，探索其在特种设备性能测试中的应用方法，以期减少对特种设备产生的检测危害，全面掌握设备情况，发挥超声波相控阵的检测价值。

关键词：超声波相控阵;探头;声束

引言

早期使用的检测技术表现出检测结果不准确、检测时间长等问题，应用性能逐渐处于末位淘汰状态。超声波相控阵被提出后，成功占据了检测技术的关键地位，成为检测技术的主流应用。

1.扫查法

1.1扇形扫查

扇形扫查检测技术，是使用探头设定检测深度，启用相同功能的芯片，以一个角度为切入点进行全面扫查。在此种检测过程中，选用一组阵元，针对被选阵元进行各种聚集检测，每次调整波束的检测角度，获得全新的扇形扫查范围。此种检测方法，适用于各类外观特征、检测条件欠佳的设备工件。此检测方法借助参数校准法，能够获取各类芯片扫查平面视图。

1.2线性扫查

线性扫查检测方法是调整全部阵元对应的波束传出角度，使其处于完全一致状态，借助相同聚焦理念，相控阵中启用的探头会激活一组阵元给予响应。操作流程是：假设超声波相控阵中，含有的阵元数量为n个，采取相邻阵元组队方式，组成阵元数量介于1与n之间;使用前期设定完成的聚焦方式，对一组阵元进行激活处理，在相控阵探头操作时，沿其方向进行阵元位置调整，调整长度为一个单位步长;使用相同的调整方法，进行第二组阵元的激活处理，直至探头处理完成。……