中国兵器工业第214研究所 杨翠侠 吴力涛 杨琼楠 张增龙

我所承制的某一类型电路，测试过程相似，功能参数相近，为提高电路测试效率，有必要研制该类电路的通用自动测试平台。本文基于自动测试系统的设计思想和该类电路的测试要求，主要通过并联自动测试装置的设计来完成该类电路通用测试平台制作。

我所承制的某一类系列电路传统测试方法是使用通用仪器检测设备手动完成，目前存在测试时间长、检测效率低、无法联测的问题，由于该产品每批次的数量多，目前测试设备不能满足研制和生产的需求。因此，需要制作专用的自动测试装置，来提高测试效率，以满足研制和生产的需求。

1 自动测试装置的整体方案

1.1 设计原则

电路测试系统要求操作容易，接口简单，有声光提示；可显示现行状态，在测数据，还可以存储已测数据；提高产品质量，降低产品成本。

1.2 设计方案

为提高测试效率，考虑电路测试要求特点，整套测试装置包含：单体测试装置、并联测试装置两种装置。

并联测试装置，是提高测试效率的关键装置。耗时较长、能够分辨的产品性能参数都在该装置上完成测试。各待测产品的供电、输入信号并联，同时供电和启动，应用MCU高速采样各电路的输出信号特征，来判断各电路的功能参数是否满足指标要求。能够单次完成多个产品的检测，因此提高了测试效率。

单体测试装置，在生产检测时主要用来测试需要与输入信号即时互动、并联测试无法完成的产品功能参数。……