齐学红 汪海波

江苏电子信息职业学院，江苏淮安223003

0 前言

IC测试系统[1]是保证集成电路稳定可靠的关键。IC测试分为晶圆测试、芯片测试和封装测试。IC测试仪由系统控制器、通信桥、测试头3部分组成。

DAC芯片测试仪器的性能高于DAC，方可在测量中忽略仪器的失真和噪声。随着芯片制造工艺的提升，DAC芯片的分辨率和转换速率越来越高。DAC的测试要求具有更高分辨率的ADC采集系统。ADC分辨率过高将导致采样率在几M以下，无法对高速的DAC进行测试；如果ADC的采样率较高而分辨率不足，则只能测试更低分辨率的DAC芯片。16位恰好兼顾采集速度和采集精度。鉴于此，设计利用现有的ADC芯片构建低噪声高分辨率采集电路，采集被测DAC产生的正弦波、方波、锯齿波和直流信号等，用于对DAC的性能进行评估。

1 系统测试原理及要求

低噪声信号调理电路获取被测模拟信号，处于系统的前端，对信号带宽及动态范围等具有决定作用。对大信号进行衰减，小信号进行放大，采用固定放大和可调AGC组成级联电路，获得幅度接近ADC采样信号满量程范围；设计偏移调节电路，将输入的共模信号调整到后级电路的中间电平并校正信号调理过程中的偏移，避免信号超过器件允许范围；设计选取精密的元件和优化电路，减少引入噪声，实现高信噪比；设计驱动电路，实现同时驱动4个ADC电路，满足系统时间交替采样的需要。

信号输入采样电路和ADC电路，由SYNC为多路ADC提供同步时钟，获得4路并行交替系统需要的低抖动、多相位采样时钟；……