航天科工防御技术研究试验中心 罗俊杰

存储器动态老炼试验对提高存储器的使用可靠性有着重要的作用。本文以SRAM器件为例，详细阐述了存储器动态老炼试验方法的研究方案，并实现了SRAM器件的动态老炼。该方法具有通用性，也适用于其它类型存储器的动态老炼试验。

存储器是一种常用的数字集成电路，其应用领域极为广泛，凡是需要记录数据或各种信号的场合都离不开它，尤其在计算机中，存储器是不可缺少的一个重要组成部分。在军事、航空航天等领域，存储器也有着广泛的应用，军事、航空航天等领域对其质量保证的可靠性提出了更高的要求，然而电路在大批量生产制造的过程中由于人的因素、制造设备、生产材料、制造工艺、生产环境等不确定的因素，可能会造成生产完成的部分集成电路内部存在缺陷。

可靠性筛选是剔除器件早期失效的重要手段，能够在器件使用前对器件进行有效的筛选，而老炼是可靠性筛选中的重要一环，是剔除早期失效、提高电路可靠性的有效手段。因此，研究存储器动态老炼试验方法，通过动态老炼试验能有效剔除早期失效产品，进而提高存储器的使用可靠性和稳定性。

1 元器件老炼试验简介

元器件老炼试验是元器件筛选试验项目之一，它是在规定的时间通过给元器件施加相应的温度应力和电应力，使元器件内部的潜在缺陷得以快速暴露，这样能够剔除元器件的早期失效产品。……