陈 田，周 洋，任福继，3，安 鑫，赵沪隐

（1.合肥工业大学计算机与信息学院，合肥 230009；2.合肥工业大学情感计算与先进智能机器安徽省重点实验室，合肥 230009；3.德岛大学工学部，日本德岛770-8506）

0 概述

随着集成电路技术的发展，晶体管的特征尺寸不断缩小，芯片集成度与频率日益提高，使得集成电路芯片设计对数据测试的要求越来越严格，并对自动测试设备（Automatic Test Equipment，ATE）的I/O通道数及ATE数据传输率提出了更高要求［1］。然而，由于大量的测试数据增加了测试时间和功耗，因此测试数据压缩技术［2-3］应运而生。

测试数据压缩方法主要分为基于线性解压［4］、广播扫描［5］和编码［6］的压缩方法3类。基于线性解压的测试数据压缩方法是先将测试数据压缩成较小的种子集，测试时将种子集传输到线性解压器中扩展成测试向量进行测试。该方法压缩率较高，但只有当其原始测试集中包含很少的确定位时，才能生成合适的种子。基于广播扫描的测试数据压缩方法通过一个共同的输出结构将相同的测试数据扇出到不同的扫描链中［7］。该方法较简单，但是每一次数据扇出时都需要单独连线，并要求原始测试数据具有较高的相容性。基于编码的测试数据压缩方法利用压缩算法对原始测试数据集进行高度压缩，将压缩后相对较小的测试集存入ATE，测试时利用芯片上的解压电路进行无损解压得到测试数据。该方法具有良好的适应性，但压缩率较低。近年来，研究人员陆续提出基于Golomb编码［8］、FDR编码［9］、EFDR编码［10］、FRPRL编码［11］等的测试数据压缩方法。……