李 敬，李寿涛，程 云，刘清华，陈云斌

(中国工程物理研究院 应用电子学研究所，绵阳 621900)

CT(计算机断层成像)技术自诞生以来，首先被用于医疗诊断与无损检测领域[1]，随着CT技术的进步及测量精度的提高，其应用范围逐渐扩展到工业产品测量领域。在工业测量领域，CT技术被视为装有特殊传感器的坐标测量仪，和接触式三坐标、光学三坐标一起被称为第三代测量技术[2]。对于传统接触式或光学非接触式三坐标测量设备，物体内部结构尺寸的无损测量是生产实践的难题之一。

但CT技术在工程计量应用中还存在许多问题，如CT测量过程存在大量复杂的影响因素(见图1)； 目前还没有完整可用的测量标准；测量结果通常无法溯源；难以评估测量不确定度等。工业CT要成为计量仪器，就必须建立自身的量值传递与溯源体系[3]。这样，在应用中尽管不知道被测量的真值，但能够知道被测量真值存在的范围，这也是计量仪器的最大特点。仪器的计量化就是将仪器的测量误差通过不确定度的形式表示出来，为了达到这一目的，就必须开展工业CT测量不确定度的研究。

图1 CT尺寸测量主要影响因素

近年来，国内外相关学者在一些实物标准器的基础上，对工业CT测量不确定度进行了许多有价值的研究。德国标准化组织VDI/VDE(德国工程师协会)一直致力于CT尺寸测量相关标准的研究，并于2015年建立了VDI/VDE 2630-2.1标准，用于指导CT测量不确定度评定；国际标准化组织ISO/TC213 WG10工作组正致力于建立基于CT原理的CMM(坐标测量机)相关标准[4]；……