李泾渭，辛 青，郁 杰，侯昌伦

(杭州电子科技大学 电子信息学院，浙江 杭州 310000)

0 引言

光学元件面形最主要的检测方法是相移干涉法，在传统情况下，被检测的光学元件只有一个光滑表面，使用传统的相移干涉算法，能检测到高精度的光学元件面形[1-2]。但是，当传统的相移干涉算法检测前后两个表面都光滑的光学元件时，由于被测元件前后两个表面都会产生反射光，所形成的干涉图像由多表面干涉形成，传统的相移干涉无法分离各自的干涉条纹，故无法测得此时的光学元件的面形。

目前常用的消除多表面干涉的方法是使用折射率匹配的消光漆或凡士林涂抹在被测光学元件的后表面，抑制后表面的反射，或者使用多模激光器[3]使后表面的反射光与测试光不相干。但是前者方法需要接触测试面，可能导致其面形遭到破坏；后者方法使用的实验装置过于复杂，其受环境影响较大，其结果不够精确。TSURUTA T等学者使用白光干涉仪测量多表面面形[4]，此后其他作者也使用了白光干涉测量法[5-6]，此方法可以使多个表面引起的干涉条纹交替分离，由分离的干涉条纹可以测量出测试元件的面形现状。但是，由于此测量方法使用白光LED作为光源，其相干长度允许范围小于2 μm，并且，当测试样品的厚度大于1 mm时，由于透射光的光程差的零位置随每个波长不同而不同，测量精度会降低。此外，徐建程等提出了一种单幅三表面干涉条纹空域傅里叶分析方法[7]，此方法基于多表面干涉时每个面反射率不同，在频谱域中各个面的反射条纹将被分离，但是需要引入空间载波且精度较低。……