基于子阵列自适应成像的RCS测量方法
2021-01-22廖可非欧阳缮
桂林电子科技大学学报 2020年4期
关键词:测量
廖可非, 刘 扬, 欧阳缮
(1.桂林电子科技大学 信息与通信学院,广西 桂林 541004;2.桂林电子科技大学 卫星导航定位与位置服务国家地方联合工程研究中心,广西 桂林 541004)
随着雷达技术的发展,雷达的探测能力不断提高,隐身技术成为了增强突击能力或保护自身的重要手段。而在雷达探测中,目标的隐身性能强弱取决于其雷达散射截面积的大小。因此雷达散射截面积获取对于隐身技术的研究和隐身飞行器的设计有着重要的指导意义,是电磁研究领域的重要研究方向之一。现有的雷达散射截面积获取方法主要包括理论计算和实际测量[1-4]两大类。其中,基于三维成像的实际测量借助微波三维成像理论等多种技术手段,提供了更为丰富、便捷的测量方式,并可进行近场、外场测量,使得基于三维成像的雷达散射截面积测量技术成为研究热点之一[5-8]。
在基于三维成像的雷达散射截面积测量当中,为了保证分辨率,需要进行大观测角测量。在试验中发现,该方法对于角反射器等复杂目标的成像效果并不好,原因是回波存在相位非相参现象[9]。在实际测量中,相位非相参现象会存在于包含角反射器[10]、腔体等结构的测量中,如汽车、飞机进气口等,这种现象将大大影响基于成像的雷达散射截面积测量精度。
针对上述难题,提出了一种基于子阵列自适应成像的雷达散射截面积(radar cross section,简称RCS)测量方法。本方法通过设置一个互相关系数,将天线全阵列自适应划分为若干个子阵列,每个子阵列各自对目标区域进行成像并反演RCS,将所有的RCS曲线按各子阵对应角度进行拼接,即可得到完整的RCS曲线。……
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