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基于形状标记和双谱分析的图像形状特征提取①

2021-01-21郭恒光鲁华杰

计算机系统应用 2020年12期
关键词:特征方法

郭恒光,李 伟,张 伟,鲁华杰

1(海军航空大学 岸防兵学院,烟台 264001)

2(海军航空大学 职业教育中心,烟台 264001)

不同类型的磨粒,由于磨损类型和形成机理不同,会表现出不同的形态特征,这些形态特征是判断磨粒所属类型的重要依据.正常磨粒、球状磨粒和切削磨粒等类型的磨粒一般在尺寸上和轮廓形态特征上具有鲜明的特点,与其他类型的磨粒区别比较明显,根据磨粒图像的形状特征对这些类型的磨粒进行分类时,识别准确率一般都比较高;而严重滑动磨粒、疲劳剥块和层状磨粒等类型磨粒的轮廓非常不规则,并且表现出一定的相似性,采用图像处理技术对这些类型的磨粒进行分类时,对磨粒图像形状特征的要求就比较高.因此研究磨粒图像形状特征提取方法,对于提高磨粒类型识别的准确率具有重要的意义.

高阶统计量是描述随机过程高阶统计特性的一种数学工具,包括高阶矩、高阶累计量以及它们的傅里叶变换——高阶矩谱和高阶累计谱,高阶累计谱简称高阶谱.最常用的高阶谱是三阶谱和四阶谱,通常称为双谱和三谱.Chandran 等[1]在1993年根据高阶谱,定义了一系列具有旋转和尺度不变性质的特征参数,用于一维信号模式识别.自1997年,Chandran[2]首次将高阶谱分析推广到二维图像和物体识别领域,近年来在这些领域得到了成功应用,例如声纳图像中海矿识别[3],电子显微镜图像中病毒识别[4]和热成像中乳腺癌检测[5].文献[1-5]中都是采用Radon 变……

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