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国际原子能机构全球实验室放射性表面污染测量比对

2021-01-18戴家铖陈志东

辐射防护通讯 2020年2期
关键词:支架污染测量

戴家铖,陈志东

(广东省环境辐射监测中心,广州,510300)

放射性表面污染测量作为常规监测手段在核设施、伴生放射性矿工作场所、核技术利用项目等辐射工作场所应用广泛,是放射性污染评定的重要依据。

2018年,IAEA实验室能力验证新增放射性表面污染比对项目[1]。由于表面污染监测是半定量的测量,影响因素较多,因此本文根据IAEA比对要求,制定合适的比对测量方案,得出比对结果均为“接受”。在广东省地级市表面污染比对中,推广采用了此方法,比对结果均为“接受”。

1 材料与方法

表面污染直接测量按方式主要分为手持法和支架法。手持法适用范围广,测量速度快,不受源项位置影响,适用于辐射环境现场监测(核技术利用、放射性物质运输等),快速测量及寻源等。但由于手持法测量高度不稳定,重现性差,准确度和精密度得不到保证,因此不适合进行仪器比对、检定和固定性测量。支架法利用支架固有稳定性,得出的测量结果稳定性、重现性、准确度和精密度均比手持法好。本文比对测量使用的是支架法。

1.1 比对样品

IAEA实验室表面污染水平比对项目样品如表1所列。

表1 表面污染测量样品

1.2 比对方法

1.2.1测量仪器

根据测量规范和仪器检定规程的要求[2-4],本次比对采用德国的LB124型α、β表面污染仪,该仪器采用ZnS涂层、薄膜塑料闪烁体探测器,探测器面积为145 mm×118 mm,测量模式和测量时间可调。

1.2.2监测方法

1.2.2.1仪器测量模式

仪器测量模式为scaler-timer模式,即累积时间内的平均计数率。

1.2.2.2测量时间

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