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地质勘查中的应用荧光分析仪应用探究

2020-11-23雷甜

写真地理 2020年36期
关键词:测量分析研究

雷甜

摘 要: 进行野外矿产勘查过程当中,在相应条件下某些元素可以通过对显晶矿物进行观察,并通过目测手段进行获取,然而很多元素只可通过取样分析手段来进行获取,还有的元素需要对其伴生和共生元素进行测定才能确定。此次在地质勘查过程当中,运用便携式X荧光分析仪测量Au伴生元素 As,Pb,从而对该区地层一些金元素相对含量进行确定,同时在地质勘查过程当中运用X荧光分析仪对土壤样、水系样开展测量工作,对研究区本底值进行确定,并依照这些对该区金多金属矿成矿有利区域进行确定。

关键词: 地质勘查;金矿;化探;X荧光分析仪;快速分析

【中图分类号】F407.1 【文献标识码】A 【DOI】10.12215/j.issn.1674-3733.2020.36.014

研究区处于3500~4800m海拔高度,呈明显的东高西低地势,具有非常强烈的地形切割,超过500~800m相对高差。此次地质勘察工作当中,借助便携式 X荧光分析仪现场测量地质样品,同时与化探测量充分结合展开勘察研究,主要为确定勘察区域金、多金属矿有利成矿区域,对成矿富集地段进行寻找,指导下一步找矿工作顺利开展。

1 工作区地质背景

侏倭组 T3zh(主要出露条带状粉砂岩、砂岩和砂质板岩 )是区内的主要地层出露,新都桥组 T3x(以深灰色粘板岩和沙质板岩为主) 与之整合接触,单斜地层区内的主要地层特征,向北东东向倾向,倾角35~45°,由于局部构造作用,扭曲摆动现象在地层延伸方向上比较突出。构造因素影响测区西部,使其走向向北西转变,具有较为破碎的岩石特征。……

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