张向远

摘 要： 科技的快速发展和进步，对于地质样品分析技术起到了很大的促进作用，但由于地质样品有着不同的地质条件和不同的地质构造要素，所以在地质样品分析过程当中，有关地质分析工作人员，不但要具备较强的地质样品分析理论知识，同时还必须要具备较强的实践经验，这样才能根据地质样品实际科学的选择相应的分析技术，提高地质样品分析效率与质量。基于此，下文将地质样品中银、锡元素分析作为对象，运用地质样品分析专用的AES-7200型发射光谱仪进行分析研究，缓冲剂选择焦硫酸钾、氟化钠、三氧化二铝和碳粉的混合物，锗作为内标元素，通过交流电弧发射光谱法，对地质样品当中的银、锡开展分析测定工作，使光栅摄谱仪的相板记录方式与洗相议谱、测光等操作环节被取代，工作效率大幅增强。

关键词： 地质样品分析;专用发射光谱仪;交流电流发射光谱法;银;锡

【中图分类号】P632 【文献标识码】A 【DOI】10.12215/j.issn.1674-3733.2020.36.011

下文当中在地质样品银、锡元素分析测试过程当中运用，瑞利分析仪器公司的AES-7200地质样品专用发射光谱仪开展分析测试，缓冲剂主要运用焦硫酸钾、氟化钠、三氧化二铝和碳粉混合物等，内标元素为锗，通过交流电弧发射光谱法对地质样品当中的银、锡元素含量开展测定工作。这一方法的运用，使光栅摄谱仪分析测试过程当中洗像、议谱、测光等环节被省去，一次开展摄谱，通过计算机便能对样品含量直接的进行计……