［严建平］

1 引言

随着光通信技术高速发展，光通信领域也发生相应改变，并在光通信数据领域开始形成各种类型测试系统。多通道光测试系统是针对光通信设备、光器件生产和工程应用的需要而开发的一种多通道光信号测试系统。它是集成了偏振控制器、光功率采集仪、回波损耗测试仪、多通道光源为一体的综合性测试系统。系统采用精确的数据采集技术和软件校准技术，结合友好的控制界面软件，可方便快捷的测试器件的光偏振相关损耗（PDL）、光插入损耗（IL）、光回波损耗（RL），并输出1 270、1 310、1 490、1 550、1 625 nm五个波长的光源。系统的测试数据具有高精确性特点，非常适应于光信号测试和光通信技术领域的使用和推广。

2 硬件设计与实现

多通道光测试系统通过STM32F103微处理器管理与控制着偏振控制模块、光功率采集模块、光回波损耗测试模块、多通道光源模块、以太网接口及界面软件，每个模块都具有相应的功能，系统组成框图如图1所示。

图1 系统组成框图

2.1 STM32F103微处理器

STM32F103系列微处理器是第一款基于ARMv7-M结构体系的32位标准精简指令集（RISC）处理器。具有极高的代码效率，在常用8位和16位系统的存储空间上极大发挥了ARM内核的高性能特点。该系列微处理器内置高达128 K字节的Flash存储器和20 K字节的SRAM，工作频率为72 MHz，具有丰富的通用I／O端口。作为最新一代的嵌入式ARM处理器，它为实现微控制单元（MCU）的需要缩减引脚的数目降低了功耗，提供了低成本的平台、卓越的计算性能及先进的中断响应系统。……