张维国，韩 博，倪培君，张智涵，齐子诚，付 康

(1.中国兵器科学研究院宁波分院, 宁波 ;2.中国五洲工程设计集团有限公司，北京 100053)

尺寸测量是工业CT系统的一个重要应用方向，可以无损测量试样外部、内部结构或缺陷尺寸，被广泛应用于质量检测及逆向重构中，具有其他测量方法无法比拟的优势。但同时，CT尺寸测量是非直接测量方式，CT系统不可能重建出与试样完全相同的CT图像，因此其用于尺寸测量时也有局限性[1]。目前工业CT系统的尺寸测量方法有两种：一是手工测量，主要依赖CT值的半高宽法进行测量；二是自动测量，在CT图像上通过一定的算法选择边界阈值，进行边界提取，再通过软件算法对感兴趣区域进行自动或手动尺寸测量[2]。这两种方法的本质都是通过CT图像的像素尺寸、描述缺陷的像素数量、缺陷与背景边界像素值这几个特征量来间接测量缺陷尺寸的。

这两种尺寸测量方法在缺陷或细节尺寸远大于系统的有效射束宽度(BW)时，有较高的测量精度，如IPT6110 高能工业CT在大于1 mm的试样上，尺寸测量精度在0.5%5%。但对于缺陷或细节尺寸接近或小于系统的BW时(文中将尺寸小于有效射束宽度的缺陷定义为小缺陷)，测量结果的误差很大，甚至会超过200%。其主要原因是：手工测量与自动测量均依赖于CT图像中缺陷或细节特征与背景的像素值，当细节图像的尺寸与有效射束宽度之比越来越小，CT图像中细节影像与背景的显示对比度与真实对比度相比快速减小，直到根本发现不了细节影像，此时再用半高宽法进行测量，测量结果就会出现较大偏差，该方法不再适用。……