杨静静，孙杰明

(中航富士达科技股份有限公司泰斯特实验室，西安 710077)

0 引言

接触电阻是电连接器电性能参数的重要指标，通过测试接触电阻，不仅可以反映各种电接触形式的稳定性，而且还可以反映微型电子元器件在复杂环境条件下使用时的形变情况等[1，2]，但由于其阻值的特殊性，在进行接触电阻测试时产生的误差往往会对最后的结果产生较大的影响，只有明确误差的来源，才可在试验中有效的避免或使误差最小化，这样最终的测试数据才更具真实性[3，4]。

1 接触电阻的测试原理

由于接触电阻阻值的数量级较小，所以在进行测试时，首先要保证的是，测试设备可以有效的消除自身带有的误差，例如，对于射频同轴连接器而言其接触电阻阻值可以是10-2～10-4数量级，因此如果不消除设备自身的测试误差,那么对于小电阻测量而言，是无法保证测试结果的真实性的，那么对于小电阻测试而言，其测试原理可用图1表示：

图1 接触电阻测试原理图Fig.1 Principle of Contact Resistance Testing

其实开尔文电桥是惠斯通电桥的升级和变形，其中R1、R2、R3、R4均为可变电阻，RX为被测低电阻，Rn为低值标准电阻与惠斯通单电桥对比，开尔文电桥做了两点重要改进：

(1)增加了一个由R2、R4组成的桥臂。

(2)RX和Rn由两端接法改为四端接法。其中P1P2构成被测低电组RX，P3P4是标准低电阻Rn，P1P2、P3P4为电压接点，C1C2、C3C4称为电流接点。从图中可以看出，采用卡尔文四线桥法时，将RX电流端电阻和Rn电流端的电阻RX与，接入电源回路，从而消除了这两端的电阻……