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Er2O3-WO3-水性聚氨酯X射线屏蔽材料的制备及性能

2020-05-23吴家堡吴正新刘国卿

深圳大学学报(理工版) 2020年3期
关键词:模拟计算氧化物X射线

李 涌,吴家堡,吴正新,刘国卿

深圳大学物理与光电工程学院,广东深圳 518060

X射线作为一种成像工具,在医学领域得到广泛应用,全世界每年有超过30亿次X光照射用于医疗诊断[1-2].不受控的辐射或长期接触X射线可能会对人体细胞造成伤害,破坏组织和器官,甚至导致皮肤癌、白血病和白内障等疾病的发生[3-4].因此,X射线的防护已成为重要的研究课题.

传统的X射线屏蔽材料通常选用含铅有机玻璃或铅橡胶制品等[5-8].医用X射线的能量一般介于40~88 keV,铅对于该能量区的X射线吸收能力相对较弱[9-10];另外,铅具有毒性,对人体和环境均有负面影响,且含铅辐射防护材料比较笨重,耐用性较差[11-15].2014年7月,欧盟禁止在欧洲的医疗保健中使用铅[1,16].无铅X射线屏蔽材料的开发是当前研究的一个热点.

当入射光子的能量较低时,其与物质的相互作用以光电效应为主.K层边界吸收是指入射光子能量稍高于电子结合能时,该壳层电子发生光电效应的截面急剧增大的现象[17]. 在选择替代铅的X射线屏蔽材料时,K层边界吸收效应对于提高材料的屏蔽性能具有重要意义.金属铒和钨的K层吸收边分别为57.5 keV和69.5 keV,对医用X射线的屏蔽效果优于铅.水性聚氨酯(waterborne polyurethane, WPU)是一种不含有机溶剂的绿色涂料,具有机械性能优良、相容性好和易于改性等特点,广泛应用于汽车涂料和皮革装饰等领域[18-20].本研究以水性聚氨酯为基体,以氧化铒(erbium oxide, Er2O3)和氧化钨(tungsten trioxide, WO3)作为功能粒子,充分利用Er和W的边界吸收效应,制备了一种无铅、环保、高效的X射线屏蔽材料.

1 实验部分

1.1 试剂与仪器

试剂:水性聚氨酯防水涂料,由衡阳瑞康建筑防水工程有限公司生产;硅烷偶联剂KH-560,由鼎海塑胶化工有限公司生产;聚羧酸钠盐型分散剂,由广州市润宏化工有限公司生产;有机硅消泡剂,由广州市润宏化工有限公司生产;微米氧化铒,纯度99%,由上海水田材料科技有限公司生产;微米氧化钨,纯度99%,由美国姆雷达科技公司生产;凡士林,自备.

仪器:GEM5970型高纯锗探测器;Quanta450 FEG型场发射扫描电子显微镜.

1.2 复合材料的制备

1)分别称取质量比为4∶1、3∶2、1∶1、2∶3和1∶4 的Er2O3和WO3粉末,倒入容器中,搅拌10 min,使两种金属氧化物混合均匀;再加入质量分数为1%的硅烷偶联剂,搅拌10 min,使屏蔽剂表面润湿、活化.

2)在经上述表面处理后的Er2O3-WO3体系中加入质量分数为47%的WPU,搅拌分散15 min,使屏蔽剂功能性粒子与WPU均匀混合;依次加入质量分数为1%的分散剂和质量分数为1%的消泡剂,持续搅拌分散10 min.

3)在聚四氟乙烯专用模具(直径8 cm,高0.5 cm)表面涂上凡士林,将上述第2)步制得的混合液倒入模具中,在通风柜下放置48 h,使其自然晾干固化.脱模即得到Er2O3-WO3-水性聚氨酯基X射线屏蔽材料,外观如图1.

图1 样品外观Fig.1 The sample appearance

1.3 屏蔽性能测试

图2 屏蔽性能测试装置示意图Fig.2 Schematic diagram of shielding capability test equipment

以241Am和133Ba作为放射源,用高纯锗探测器测试材料的屏蔽性能.具体方法如图2所示,将放射源置于探头上方10 cm处,将样品置于放射源与探头中间,设置时间30 min,分别测试射线通过样品后59.5 keV和81.0 keV两个全能峰处的净计数N及无样品时的净计数N0. 通过式(1)计算样品的质量减弱系数μm:

(1)

其中,d为样品厚度;ρ为样品密度.各样品均设3组平行样,取其质量减弱系数平均值.

1.4 屏蔽性能模拟计算

本研究在模拟过程中通过蒙特卡罗程序(Monte Carlo N particle transport code, MCNP)中的F2计数卡,计算样品在59.5 keV和81.0 keV处的质量减弱系数.整个模型处在空气环境中,假设放射源为点源,单向垂直入射屏蔽材料,设置的粒子数为108.模拟计算时采用光子与电子的联合输运方式,包含了光电效应和康普顿散射等光子与物质相互作用过程.

1.5 材料结构表征

用扫描电子显微镜(scanning electron microscope, SEM)对材料表面进行分析,观察Er2O3和WO3颗粒在样品中的分布均匀性.

2 结果讨论

2.1 屏蔽性能分析

2.1.1 Er2O3、WO3配比对屏蔽性能的影响

表1为通过式(1)计算得出的不同Er2O3和WO3质量比样品的质量减弱系数,P为空白样品.由表1可见,填充Er2O3和WO3的样品对能量为59.5 keV和81.0 keV射线的质量减弱系数均很高,具有很好的屏蔽效果.随着Er2O3质量的减少,WO3质量的增加,样品在59.5 keV处的质量减弱系数明显减小,81.0 keV处的质量减弱系数增加.

表1 不同Er2O3、WO3质量比的样品质量减弱系数Table 1 Mass attenuation coefficients of samples with different mass ratios of Er2O3 and WO3

铒和钨的K层吸收边分别为57.5 keV和69.5 keV.样品中Er2O3的相对含量越高,对能量稍高于57.5 keV的X射线的屏蔽效果越好;WO3相对含量越高,对能量高于69.5 keV射线的屏蔽效果越好.结合表1中各样品的质量减弱系数,综合考虑能量介于40~88 keV区间的X射线,本研究选用m(Er2O3)∶m(WO3)=1∶1制备屏蔽材料.

2.1.2 金属氧化物重量比例对屏蔽性能的影响

将样品中的金属氧化物质量分数由50%分别增加至60%、70%,在相同条件下制备样品并测试其屏蔽性能,结果如表2. 由表2可见,随着金属氧化物质量分数的增加,样品对59.5 keV和81.0 keV射线的质量减弱系数均明显增大.

考虑到金属氧化物质量分数高于80%时,复合材料的力学性能影响显著,样品变得易脆,实际制样时,选择金属氧化物质量分数为70%,m(Er2O3)∶m(WO3)=1∶1,制得X射线屏蔽材料.

表2 不同金属氧化物质量分数的样品质量减弱系数Table 2 Mass attenuation coefficients of samples with different metal oxide weight ratios

2.2 屏蔽性能模拟计算

表3为通过MCNP模拟计算所得各样品的质量减弱系数.对比表1和表2中的测量值可见,实验测得样品的质量减弱系数与模拟计算结果基本吻合,相对误差在5%以内. 模拟计算结果稍高于实验测量值,主要是由于模拟的屏蔽材料处于绝对均匀分布的理想状态,这在实验中是较难实现的[21-23].

表3 MCNP模拟计算的质量减弱系数Table 3 Mass reduction coefficients of simulated computation by MCNP

2.3 材料结构表征

图3为样品表面的SEM图.可以看出,Er2O3和WO3颗粒在复合材料中分布较为均匀,没有出现明显团聚现象,说明硅烷偶联剂的加入对金属氧化物起到了较好的修饰作用,分散剂的加入也使屏蔽剂功能粒子在复合材料中分散较为均匀.

图3 样品表面SEM图Fig.3 SEM image of the sample surface

结 语

以水性聚氨酯为基底,以氧化铒(Er2O3)和氧化钨(WO3)为射线屏蔽剂制备了一种无铅、环保、高效的X射线屏蔽材料.当Er2O3和WO3质量比为1∶1、金属氧化物的质量分数为70%时,该复合材料对能量为59.5 keV和81.0 keV的射线质量减弱系数可达5.5 cm2/g和4.2 cm2/g,实验测量的质量减弱系数与MCNP模拟结果基本吻合,相对误差在5%以内. Er2O3和WO3颗粒在样品内部分散均匀,未见明显团聚现象.该材料制备工艺简单,可广泛应用于涉核人员的X射线防护.

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