操彬彬， 刘幸一， 陈 鹏， 彭俊林， 杨增乾， 安 晖， 汪 弋， 栗芳芳， 陆相晚， 刘增利， 李恒滨

(合肥鑫晟光电科技有限公司，安徽 合肥 230001)

1 引 言

随着人们对TFT-LCD品质要求的不断提高，为进一步降低产品的品质风险，我们在信赖性测试过程中非常重视检测屏幕出现的Mura类不良[1-2]。Mura一词源自日语，是液晶面板生产过程中出现的各种色斑类不良现象总称，主要表现为有效显示区域内亮度或者颜色显示不均匀。关于Mura的产生原因，大致可以分为电学性和光学性两种。其中，光学性Mura是指由液晶分子排布、液晶纯度、液晶盒厚或彩色滤光片颜料纯度、比例及树脂材料和厚度等光学因素导致的显示画面灰度不均匀造成各种痕迹的现象；而电学性Mura是指在显示区域中，局部位置亚像素的电压与同期正常位置上亚像素的电压存在明显差异导致的灰度不均匀。本文针对一种在TFT-LCD信赖性过程中出现的一种四角发黑Mura，进行了大量测试和分析推理，并提出了比较切实可行的解决方案，与之相同的研究尚未见报道。

2 不良现象

图1 四角发黑Mura示意图。(a)25 d HTO后； (b)50 d HTO后。

本文所述的四角发黑Mura发生在信赖性65/90的THO (Temperature Humidity Operation：温度65 ℃,湿度90%)测试过程中，主要特征包括：(1)Mura初始发生位置固定在面板的4个角，随着信赖性时间的进一步增加，不良现象逐渐加重，HTO 50 d后Mura可扩散到整个屏幕的周边，如图1所示； (2)0灰阶不可见，1～255灰阶均可见；(3) Mura区域整体像素偏暗，像素未见闪烁；(4)通常发生在信赖性500 h以后，随增加时间而不断恶化，长时间的老化如在60 ℃的老化炉放置3 d并不能使不良现象减轻。……