袁烨 李静 潘立豹 孙勇 王松滨

摘 要：针对残影测试使用点式亮度计无法满足测试要求，面式亮度计价格昂贵且高温测试不易推广的问题，提出了一种新的残影测试系统。通过该系统对同样的样品和面亮度计进行对比测试，测试精度较高，测试误差小，测试结果一致性较好。该系统主要由电脑、光信号探测器、光电信号处理模块3部分组成，该系统可以对显示产品进行常温、高温的残影测试，系统性能可靠、操作简便、测量精度高、价格便宜，并且解决了目前高温残影测试无法定量的问题，适用于特殊环境下的残影测试评价。

关键词：残影；亮度计；对比率；高温

中图分类号：O436 文献标志码：A

Abstract：In view of the problem that the use point luminometer can not meet the test requirements， the surface luminance meter is expensive and the high temperature test is not easy to be popularized， a new residual shadow testing system is put forward. Through the system， the same sample and surface luminance meter are compared and tested， the test accuracy is high， the test error is small， and the test result is one. The sex is good. The system consists of three parts： the computer， the light signal detector and the photoelectric signal processing module. The system can test the display products at normal temperature and high temperature. The system has reliable performance， easy operation， high measurement precision and cheap price， and it can solve the problem that the present high temperature shadow test can not be quantified. The evaluation of residual shadow test in special environment.

Keywords：Residual image； luminance meter； contrast ratio； high temperature

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薄膜場效应晶体管型液晶显示屏（Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display，TFT-LCD），因其可以高速、高亮、高对比度显示屏幕信息，被广泛应用于笔记本电脑、桌面显示器、液晶电视、移动显示终端等领域。而随着人们对显示质量的要求不断提高，液晶面板存在的显示问题——残影，是业界持续改善的一项重要不良。当液晶显示器长时间停留于某一画面再切换到另一画面时，原有画面形成影像残留，称为“残影”。

引起残影的现象有很多，当液晶组分或取向膜稳定性较差时，由于离子吸附构成内建电场容易形成残影，而当驱动信号产生非对称直流成分或一定程度的TFT漏电流时，也会形成残影。现有主流残影的发生机理中，主要包括两个因素，一个是液晶面板中包括的离子型不纯物，第二是形成偏置电压，二者缺一不可。……