APD探测系统的噪声特性及其影响因素研究
2018-11-23刘贺雄高宇辰
激光技术 2018年6期
刘贺雄,周 冰,高宇辰
(陆军工程大学石家庄校区 电子与光学工程系,石家庄 050003)
引 言
雪崩光电二极管(avalanche photodiode,APD)因其重量轻、体积小、能耗低、灵敏度高、响应速度快等优点,在光纤通信、激光测距、微弱光信号检测等领域被广泛应用。APD探测系统主要包括:接收瞄准光学系统、滤波片、雪崩管、偏压控制电路和信号放大电路。APD探测系统在光电转换过程中产生的随机噪声是影响APD性能的重要因素,噪声水平越低的APD,性能越优良。因此研究APD噪声特性及其影响因素显得十分必要。SUN[1]对APD噪声的统计特性及不同光源下APD的噪声特性进行了研究。SHANG[2]通过对APD噪声特性的分析,建立了APD噪声仿真模型,并对APD的自动增益进行了研究。RAVIL[3]等人从信噪比公式出发,研究了背景光对APD探测性能的影响,并利用无量纲参量建立了APD在背景光下的性能评估模型。然而,以上研究都是基于实验室的理想条件,至今未见自然状态下、经大气传输的背景光对APD噪声特性影响的研究。
为此,本文中深入分析了APD探测系统噪声来源以及APD性能的影响因素,并利用高光谱相机计算背景辐射经大气传输后功率的方法,研究了自然条件下背景光对APD探测系统噪声特性的影响。
1 APD探测系统的噪声特性
APD探测系统的噪声来源有APD探测器噪声、背景噪声、量子噪声。APD探测器的噪声来源于APD自身的电子噪声及其带有的前置放大器噪声。雪崩光电二极管所产生的噪声是由其载体电荷的随机波动而引起的,包括:热噪声、散粒噪声、1/f噪声和产生-复合噪声等[3]。……
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