基于微测井约束的折射静校正方法在低幅目标区中的应用
2018-11-10党志敏刘宜文尹丽丽张玉华王意
新疆地质 2018年3期
党志敏,刘宜文,尹丽丽,张玉华,王意
(1中国石油新疆油田分公司勘探开发研究院地球物理研究所,新疆 乌鲁木齐 830013;2.中国石油新疆油田分公司风城油田作业区风城采油二站,新疆 克拉玛依 834000)
关键字:微测井;约束;静校正;中、长波长;低幅
目前,业界应用较成熟的静校正方法有模型法、折射法、层析反演法等[1-2]。在实际应用中简单的一种方法是难以解决低幅目标区的静校正问题,将几种方法综合应用的思路有2种:其一是微测井模型的低频成分与折射波高频成分组合[3-7]。该方法在静校正分离与组合中,有可能因为分离半径不合适造成中、长波长静校正残留,且高频成分也有一定损失;其二是折射层析联合反演。利用折射计算的延迟时间和层析反演的表层速度、厚度联合建立表层模型,在实际应用中,由于层析反演不能刻画表层速度的细节变化,难以有效控制小幅的中、长波长精度。以上2种综合静校正应用技术均难以满足识别低幅目标区(10~15 m)的静校正精度需求。经过研究基于控制点约束的折射静校正方法,保持折射法利用多道统计获得较高高频静校正精度的同时,在一些表层结构纵、横向发生变化的区域,利用表层控制点成果控制其速度与厚度的空间变化规律,并应用微测井的单点静校正量对折射静校正量进行标定和约束校正,以求提高折射法中、长波长静校正精度。该方法在保证短波长静校正分量精度的同时能有效把控中、长波长空间变化,保证整体静校正量精度。……
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