杜佳

摘 要 待测物质中的原子在原级X射线光子与其他微观粒子的激发下产生荧光，随后在针对样品开展化学成分定量研究和定性分析的方法便是X射线荧光法。鑒于此，本文对地质样品分析测试中X-射线荧光法的应用展开研究。

关键词 地质样品；X-射线荧光法；应用

而因地质样品有着较多的分析项目，若是以化学分析方法对样品进行测定时，有较高的成本、较长的耗时、较大的分析工作量及较多的污染等多个缺点存在[1]。本文采用高功率X-射线荧光光谱仪，通过粉末压片制样，在大量的实验下完成了同时测定地质样品中铜、钼、砷、锑、铋等五种元素的方法，不但减少了分析成本与地质样品分析工作量，还实现了工作效率的提升，减少了环境污染。

1 实验部分

1.1 主要仪器与试剂

PW 4400型X射线荧光光谱仪；超尖锐端窗Rh靶X射线管，75μm超薄铍窗。SL201型半自动压样机。

1.2 样品制备

采取压片法进行固体粉末样品的制备，经济、快速、操作简便。然而因物相、粒度要求的缘故，在样品制备过程中必须仔细、认真。样品称取应以8g～12g为佳，有利于压片时样品不会有裂纹出现，能使实验数据具有更高的稳定性。随后，以105℃的环境将样品烘干，粉末粒度过180目，以低压聚乙烯镶边，216kN压力下进行压制。

1.3 仪器工作条件

本文实验中选取PW4400型X-射线荧光光谱仪，超尖锐端窗Rh靶X射线管。铜、钼、砷、锑、铋等五种元素的检测条件具体为：分光晶体均为，准直器均为300，滤光片均为 ，激发电压（）均为60，激发电流（）均为50， 分别为24、33、34、35、37， 分别为58、66、66、64、64。……