陈 静

（中国电子科技集团有限公司第十四研究所， 江苏 南京 210039）

引言

元器件二次筛选（补充筛选）指的是在元器件制造厂商进行筛选的基础上，元器件使用单位根据使用的需要进行的再次筛选。元器件生产厂家出厂前进行的筛选称为成品筛选或一次筛选。元器件的“一次筛选”和“二次筛选”的目的和实验方法基本相同。二次筛选是现行军用电子元器件质量与可靠性管控的重要环节，是检验元器件批合格率、质量一致性的重要手段。二次筛选淘汰由于制造缺陷造成的早期失效产品，提高器件整批使用可靠性。本文重点论述元器件二次筛选中常见的筛选试验方法及筛选项目的确定、二次筛选过程中的质量控制措施和元器件入所时的电参数测试。

1 元器件二次筛选中常见的筛选试验方法及筛选项目

1.1 筛选实验方法

常见筛选试验方法主要有如下几种表1所示[1]。

表1 常见的筛选试验方法

1.2 电子元器件筛选实验项目种类

电子元器件筛选实验项目种类很多，有环境实验类、物理性能实验类和基本电性能实验类。二次筛选应按照相关元器件国家军用标准、企业标准制定相应的二次筛选条件和技术要求，并根据产品总规范的要求来选择实验项目。筛选标准在执行过程中不能随意更改，以下是几种常见电子元器件的二次筛选项目流程表2所示。

表2 常见电子元器件的二次筛选项目流程

根据产品和器件的不同，二次筛选的项目和顺序也有些不同。……