黄国林，王劲松，周旭阳，许鹏飞

（长春理工大学 光电工程学院，长春 130022）

瞄准基线变化量是瞄准镜在经过射击、运输等一些客观条件下瞄准基线发生的偏移，是表征光学瞄具光机结构稳定性的重要性能指标，也是瞄具特性测试的重要参数之一[1]。该项参数的检测多采用零位仪法，即利用准直物镜对准瞄准镜的前端，以准直物镜的光轴为基准，通过测量被测瞄准镜的分划板上图像的前后相对偏移来检测瞄准基线变化量[2]。目前对零位仪的研究和应用非常广泛。传统的零位仪多采用复杂的微动细分读数机构，光学和机械细分读数结构，但设备结构复杂，操作效率低。近年来基于OLED电子分划数字化对准读数的零位检测也有研究，2012年，长春理工大学刘洋等人设计一套瞄准镜多参数综合检测系统，将OLED显示屏生成的目标刻线图像作为电子分划来模拟无穷远目标[3]。由于目前OLED显示屏的分辨率的限制，这种基于OLED的数字化零位仪无法同时实现大测量范围和高分辨率的检测要求。2016年，孙美娇等人提出一种将OLED显示屏成像在准直物镜的焦平面上后再经准直物镜形成无穷远目标的零位仪系统[4]。这种系统解决了由于OLED显示屏分辨率的限制而导致的大范围、高分辨率的检测要求，但由于对OLED成像的光学系统带来的误差而使测量的精度不能达到要求，无法实现预期的效果。此时，需要应用一种双远心物镜，双远心光学系统因具有大景深、高分辨率、低畸变、放大率恒定等非常优势的光学性能而被广泛应用于光电检测系统中[5-7]。……