崔海龙　田爱国

摘要：在数字芯片测试中，当遇到芯片的数据输出时间点不确定的情况时，测试仪无法编写严格时序的测试向量，而采用match loop向量编程的测试方法可有效的解决以上问题。本文分析了两种基本match loop方法，针对一款基带芯片，采用match loop测试方法进行了详细的分析，最终完成测试。

关键词：ATE；match loop；数字芯片测试；时钟同步

中图分类号：TN407 文献标识码：A 文章编号：1007-9416（2018）04-0112-02

数字芯片以其优于模拟芯片的先天优势，在集成性、高速性上有着飞速的发展。得益于相同的技术基础，自动测试仪器（ATE）自动化地完成测试序列，通过测试响应采检验芯片是好是坏[1]。在如何使测试仪基于芯片内部时钟向芯片加载向量的问题上，当前主流自动测试仪均未有高精度的解决方案。测试工程师在深入理解测试机硬件和测试原理的基础上，通过向量编程可实现两者的同步，主流解决方案为match loop向量编程。

1 向量编程原理

数字芯片测试时，通常数据向量都是由测试仪按照严格的时序供给被测芯片，但有些情况下，芯片处理数据的时间是不确定的，测试仪需等待芯片数据处理完成输出后，再加载向量，因此加载向量的时间点是不确定的。match loop向量编程的方法可以解决这一问题。

match loop向量编程首先分析芯片功能生效前后电平状态区别，通过不间断比对一段固定数据的向量，当匹配到预期的正确向量，则向量跳至正常功能测试部分，通过测试仪找到芯片开始工作的真实时间点。采用循环的方法减少了向量长度对测试仪通道向量深度的要求，并节约了编程时间。……