佘开，何怡刚，李兵，朱彦卿



信道相关情况下UHF RFID识别性能分析

佘开1，何怡刚2，李兵2，朱彦卿3

（1. 湖南科技大学物理与电子科学学院，湖南 湘潭 411201；2. 武汉大学电气工程学院，湖北 武汉 430072；3. 湖南大学电气与信息工程学院，湖南 长沙 410082）

针对UHF RFID系统识别率受电波多径传播制约的问题，研究了前向与反向相关信道对系统识别性能的影响。将信道分为独立、相关和完全相关3种情形，基于广义莱斯衰落信道模型，推导了识别率的解析计算式。与现有分析相比，此分析给出了任意相关系数和多种信道条件下识别率统一的计算式。仿真实验表明，不同相关系数、信道条件、灵敏度和距离对识别率有影响。

射频识别技术；识别率；相关信道；广义莱斯衰落模型

1 引言

超高频射频识别（UHF RFID）系统具有无源、识别距离远、多标签识别和成本低等优点，在物流、仓储和智能交通等领域具有广阔的应用前景。该技术基于雷达原理，单标签识别率由阅读器至标签无线供电的芯片激活概率以及标签至阅读器的反向散射通信成功率共同决定。各类应用场景的无线信道模型、信道间相关特性、标签芯片灵敏度等都对识别率有很大影响[1]。故本文考虑实际应用场景中的各种影响因素，特别是信道相关系数，研究标签识别率的计算方法。

文献[2]首先对办公室环境下RFID系统的反向散射调制信道进行了测量，指出小尺度衰落可由2个莱斯（Rician）随机变量的乘积建模，而大尺度路径损耗是单个路径损耗的2倍。……