多芯片LED器件热学特性分析
2018-05-31陈焕庭陈福昌熊传兵周锦荣陈赐海
发光学报 2018年5期
关键词:模型
陈焕庭, 陈福昌, 何 洋, 林 硕, 熊传兵, 周锦荣, 陈赐海
(闽南师范大学 物理与信息工程学院, 福建 漳州 363000)
1 引 言
多芯片LED器件是将多个LED芯片集成在散热基板上,并实现整体封装的一种技术。与单芯片LED器件封装相比,多芯片LED器件可提高单位体积内光源的集成度,有利于LED光源体积降低[1-2]。随着多芯片LED器件集成度的提高和体积的缩小,尤其是对于集成大功率芯片的LED器件,其内部具有多个热源,热源之间的热耦合效应明显,单位体积内的功耗较大,随着LED器件结温升高,将影响到LED光源的光学特性以及电学特性,可靠性降低[3-4]。因此,分析多芯片LED器件内部热学模型,准确计算其结温已经成为目前多芯片LED器件应用中不可忽略的一个重要环节[5-7]。
传统热设计方法需要通过对样品进行大量的实验分析比对,最终提出合理的散热结构方案,因此存在很大的局限性。目前普遍采用计算机仿真软件对LED的不同散热结构进行热模拟分析,通过对多种优化结构的计算分析,确定最合理的改进方案,并最终将热仿真结果与实际测试进行对比论证,从而验证设计方案的可行性。
多热阻模型的优点是热分析行业内普遍认可的,它可以简化封装模型,在热模拟过程中节省网格,大大降低仿真时间,精度高于单热阻以及双热阻模型,目前国外电子厂商和软件公司对多热阻模型的研究投入力度很大,国内尚处于起步阶段,基于欧洲基金项目而建立的DELPHI热阻网络模型,已被广泛应用于电子设备热设计中[8],该模型是目前世界最流行的热阻提取方法。……
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