(中冶赛迪重庆环境咨询有限公司，重庆 400013)

X射线荧光光谱分析是一种非破坏性的现代仪器分析方法，它具有分析速度快、可分析元素范围广、分析结果准确稳定、分析样品状态及形状多样等优点，在冶金、地质、石油化工、建材、环境等领域具有广泛的应用[1]。本文介绍了钢铁企业中X射线荧光光谱分析实验室的设备配置及设计要求。

1 X射线荧光光谱分析基本原理

在X射线管内，一束电子流高速撞击阳极金属靶表面，产生初级X射线，当初级X射线照射到试样表面时，激发原子中内层能级上的电子并使其跃迁形成空位，立即可由外层较高轨道上的电子来填充，多余的能量以X射线光子的形式释放出来，即产生荧光X射线，也称为次级X射线[1]。由于X射线荧光产生于原子内层电子的跃迁，因此这种跃迁只能产生有限的几组谱线，即特征X射线。根据特征X射线的波长和强度，对被测试样中元素进行定性和定量分析。

实际上试样往往是由多种元素组成的，因此会产生各种特征X射线，所以需要采用各种分光晶体把各种特征X射线波长分开在不同的衍射角上，根据布拉格定律[1]可知：

2dsinθ=nλ

(1)

式中：d：分光晶体的晶面间距；

θ：衍射角；

n：衍射线级次，n =1，2…，n为整数；

λ：特征X射线的波长。

d为已知，θ角可从仪器上直接读出，因此可求出λ的值。布拉格定律是X射线定量分析的基础，根据特征X射线强度与相应元素含量之间的关系，可以进行元素的定量分析[1]。特征X射线的强度与分析元素的质量百分含量之间的关系可用下式表示[2]：