印刷电路(PCB)靶在破片速度测试中的应用*
2018-01-30徐豫新
测试技术学报 2018年1期
刘 瀚, 任 杰, 王 伟, 徐豫新
(1. 北京理工大学 爆炸科学与技术国家重点实验室, 北京 100081; 2. 中国兵器工业第53研究所, 山东 济南 250031)
0 引 言
高速飞散破片是杀爆战斗部中的重要毁伤元, 其飞散速度是衡量战斗部威力效应的重要指标之一. 精确测量破片飞散速度是从事高效毁伤和安全防护研究者们共同关心的问题. 现有破片速度测试方法多基于区截测速原理, 按照破片与测速靶是否接触进行分类, 常见的接触靶有铜丝靶网[1-2]、 锡(铝)箔靶、 电探针法[3], 常见的非接触靶有声靶、 电磁线圈靶、 天幕靶、 光幕靶[4]和高速摄影法[5-7]. 非接触靶虽然不会影响破片的飞行速度和姿态, 对靶无损, 使用效率高, 但易受外界环境影响. 杀爆战斗部爆炸破片速度测试环境极为恶劣, 存在爆炸火光、 粉尘、 强冲击、 振动等多种干扰因素, 同时由于战斗部破片数量多、 飞散范围大, 很难对价格昂贵的非接触靶进行有效防护, 因此近年来国内对于战斗部破片速度测量大多采用接触式测量法[8-9]. 然而铜丝靶网制作复杂、 制作周期长、 铜线间距和缠绕松紧度对测试结果有较大影响[10], 因此经常有研究者们对此结构进行改进. 采用印刷电路断靶测试装置, 该印刷电路(PCB)测速靶因具有加工、 使用方便、 可批量生产等特点, 一直被各试验场区大量使用. 但该类印刷电路(PCB)测速靶的测试效果却一直未被校准, 测试精度尚不确定. 本文通过实验测试方法, 与红外光幕靶测试结果进行对比, 研究了……
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