郑金艳，周利华，李 琳

（1.合肥财经职业学院，安徽 合肥 230601；2.上海大学，上海 200072；3.安徽绿海商务职业学院，安徽 合肥 230601）

基于MEA-BP的IGBT寿命评估方法研究

郑金艳1，周利华2，李 琳3

（1.合肥财经职业学院，安徽 合肥 230601；2.上海大学，上海 200072；3.安徽绿海商务职业学院，安徽 合肥 230601）

随着半导体技术的不断发展，功率器件在许多领域都得到了广泛应用.在非平稳工况下，IGBT因使用不当、工作周期长而加速器件的老化和失效，降低其使用寿命.根据IGBT的失效机理和寿命评估方法分析，特征参数选取IGBT的c-e极（集电极-发射集）关断电压尖峰值，由NASA PCoE研究中心提供的IGBT加速老化数据，对相应的数据进行平滑处理，利用MEA-BP建立IGBT的寿命评估模型.结果显示，数据经过一次指数平滑处理的效果一般，对比之下此评估模型的二次指数平滑处理后的效果最好，由此为IGBT寿命评估的进一步分析提供理论依据.

IGBT；寿命评估；关断电压尖峰值；MEA-BP

0 引言

因大多数功率器件封装在集成模块当中，当器件出现故障时，其具体位置及失效方式难以监测与分析，导致寿命评估问题不断出现.现阶段针对IGBT在加速老化实验条件下的失效问题，主要采用BP神经网络、MEA-BP神经网络以及NAR动态神经网络建立IGBT的寿命评估模型.其中，BP神经网络局部极小化问题严重，预测输出与期望输出误差较大；NAR动态神经网络易受IGBT失效问题的影响，预测效果不好；MEA-BP具有高度自学习和自适应的能力，优化了数据的MEA-BP寿命评估模型的预测结果.

针对IGBT的失效机理和寿命评……