王文海

摘要：本文通过对该微控制器数字转换器（ADC）的精度的基本原理进行研究，并对STM32微控制器内核进行可行性分析，同时通过研究数据来对过采样技术能否通过STM32微控制器技术实验，从而得出，过采样技术的使用能够有效地减少STM32微控制器中处理器的负担，大大提高其自带模拟数字转换器的精度。

关键词：STM32微控制器；过采样技术；模拟数字转换器（ADC）

中图分类号：TP335 文献标识码：A 文章编号：1007-9416（2017）10-0005-01

1 过采样技术的原理分析

1.1 量化噪声探究

模拟数字转换器的采样过程就是通过吧连续的模拟信号通过转换成为有限的数字，在这个过程中每一个数字代表了以此采样所获取的信息。在进行量化的过程中，要根据数据的位置划定合适的量化分析，比如12位数据就代表212个量化级，如果是14位数据就代表214个量化级，可以将同一级别的样本的值归为一种类型，同时给定一种量化值。转换器的模拟信号是连续不间断的，其量化的结果和实际模拟量之间的差值叫做误差（eq），或者称为量化噪声。

1.2 过采样率与精度的关系

假设量化噪声为白噪声，就能够同归对量化误差的计算获得平均噪声的功率。

E（e）=σ2de=Δ2/12

1.3 过采样数据的计算

通过4p的过采样率得来的采样值再通过求和运算、平均计算等方法进行处理，但是却不能简单的把4p的采样值进行简单的加法和除法的运算，这种运算方法的滤波作用很低，比如R位的采样值通过精度的平均后仍然是R位，并不能提高过采样的精度。……