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传统电压源型驱动电路与谐振驱动电路对比

2017-12-13雷鹏娟陈颖超王旭升

承德石油高等专科学校学报 2017年5期
关键词:分析

雷鹏娟,陈颖超,王旭升,刘 剑

(承德石油高等专科学校 a.电气与电子工程系;b.石油工程系,河北 承德 067000)

传统电压源型驱动电路与谐振驱动电路对比

雷鹏娟a,陈颖超b,王旭升a,刘 剑a

(承德石油高等专科学校 a.电气与电子工程系;b.石油工程系,河北 承德 067000)

基于传统电压源型驱动(Voltage Source Driver,VSD)电路驱动过程中产生的损耗大、dv/dt问题引起的开关误导通等问题,对传统VSD电路和电流源型驱动(Current Source Drivers,CSD)电路的驱动过程进行了分析对比。首先对MOSFET的相关知识进行了介绍,接着对以MOSFET为原型的传统VSD电路工作过程进行了分析,在此基础上,分析了电感电流连续的CSD电路工作过程,并与传统VSD驱动电路进行了优缺点对比。最后用Pspice仿真软件进行了仿真验证。仿真结果显示, CSD电路较VSD电路而言,可以大大的减小驱动损耗。验证了CSD驱动方案的正确性和可行性。

VSD电路;驱动损耗;CSD电路;电感电流连续

近年来,随着半导体技术和微电子技术的飞速发展[1-3],诸如高速CPU、FPGA等越来越多的高速数字集成芯片被应用于通信系统中,因此,对这些给芯片供电的小功率电源的要求也越来越高[4],这使得功率变换器开始向着高频化、小型化、高功率密度、高可靠性方向发展。目前,对于功率变换器的驱动更多采用的是电压源型门极驱动(Voltage Source Drivers,VSD)方式,这种驱动方式的驱动损耗会随着开关损耗成比例的增加[5],这样不仅降低了功率变换器的效率,也降低了变换器的可靠性。文献[6]分析了传统VSD电路产生的各部分损耗所占的比例,结果显示,功率开关管Q的门极驱动损耗(CV2)所占比例最大。……

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