姚泽民，郭佳诚，王 浩，郑庆平

（北京卫星环境工程研究所，北京 100094）

航天器用固态功率放大器加速寿命试验方法研究

姚泽民，郭佳诚，王 浩，郑庆平

（北京卫星环境工程研究所，北京 100094）

针对航天器电子产品的寿命预示问题，文章指出对航天器电子产品开展加速寿命试验（ALT）研究，首先要利用故障模式、机理及影响分析（FMMEA），确定产品的主要失效机理和敏感应力；然后利用理论分析或可靠性强化试验确定产品的工作极限；最后设计出完整的试验方案。针对航天器固态功率放大器进行试验，验证了加速寿命试验在航天器电子产品中的适用性。

故障模式、机理及影响分析；可靠性强化试验；加速模型；激活能；寿命预示；固态功率放大器

0 引言

航天器平台及有效载荷中含有大量电子类产品。随着电子技术的发展，电子类产品在航天器中所占比例越来越大。由于用户对有关航天器的寿命要求逐步提高，如中低轨卫星要求达到8年寿命，高轨卫星要求达到15年寿命甚至更长，而常规寿命试验方法对于长寿命可靠性验证往往具有很多局限性。利用加速寿命试验（ALT）技术开展寿命试验可以大大缩短试验时间，提高试验效率，为航天器在轨长寿命高可靠稳定运行奠定技术基础。本文基于航天器电子产品加速寿命试验技术原理，制定相关技术流程，并开展航天器固态功率放大器加速寿命试验研究。

1 加速寿命试验技术

航天器电子产品加速寿命试验技术包括以下3个步骤：