2017年全国质检系统X射线分析技术学术研讨会

随着质检事业蓬勃发展，大型精密分析仪器X射线荧光光谱仪和X射线衍射光谱仪在各直属局实验室得到广泛应用，并成为质检事业质量把关的重要检测依据。为了积极推动X射线光谱技术的发展，加强同行间的学术交流，掌握X射线光谱技术在大宗资源商品、工业消费品、食品和化妆品、电子电气产品等领域中的最新技术及最新应用进展，建立X射线光谱技术的交流互动平台；由质检总局科技委进出口商品检验专业技术委员会和广东省分析测试协会光谱专业委员会主办，广东出入境检验检疫局检验检疫技术中心承办的“2017年全国质检系统X射线分析技术学术研讨会”，拟于2017年5月24～26日在广州召开。现将有关事宜通知如下：

1. 本次会议不收会议费，统一安排住宿，但住宿和交通费自理。热忱欢迎质检系统和广东地区X射线荧光光谱仪、X射线衍射光谱仪及其它如XPS、电子探针等领域的专家、学者踊跃参加，共同探讨我国X射线光谱技术的进展。会议交流有会议报告和会议展报等多种形式，会议设有大会报告和专业学术报告。本次参会论文可推荐在《分析测试学报》和《检验检疫学刊》上发表。

2. 会议时间与日程安排：2017年5月24～26日。24日报到，25～26日学术研讨会。

3. 会议地点：广州珀丽酒店(原名江南大酒店)；地址：广州海珠江南大道中路348号；联系人：宋武元，萧达辉，李全忠，关丽军；电话：020-38290527，020-38290479，020-38290376(传真)；E-mail：songwy@iqtc.cn，swyciq@126.com。